6月2日消息，太難半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)正面臨前所未有的芯片技術(shù)挑戰(zhàn)，芯片流片成功率降至歷史新低！流片率降

據(jù)電子設(shè)計自動化工具（EDA）公司西門子數(shù)據(jù)顯示，成功芯片首次設(shè)計定案（Tape-out，至歷流片）成功率降至歷史新低的史新失敗14%，相較于兩年前的太難24%明顯下降。

換而言之，芯片十家芯片設(shè)計公司中，流片率降有八家都會在首次流片時遭遇失敗。成功

IC設(shè)計從業(yè)者分析，至歷這主要源于芯片復(fù)雜度提升、史新失敗企業(yè)開發(fā)模式轉(zhuǎn)變等因素，太難未來專業(yè)分工、芯片委托ASIC公司打造將成趨勢。流片率降

Tape-out（流片）對芯片設(shè)計而言，猶如生死攸關(guān)的考驗，是指將設(shè)計完成的芯片方案交給晶圓代工廠生產(chǎn)樣品，檢驗設(shè)計是否符合預(yù)期，是芯片研發(fā)的關(guān)鍵里程碑。

一旦失敗，不僅前期投入的數(shù)千萬元研發(fā)成本付諸流水，更可能錯失市場先機。

本文來源：http://www.iv82.cn/news/74f7799848.html

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